產品詳情
      • 產品名稱:分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

      • 產品型號:MiniTest1100/2100/3100/4100
      • 產品廠商:德國EPK
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      簡單介紹:
      分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能。所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機。
      詳情介紹:

      分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點
      (德國EPK)MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
      所有型號均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
      可使用一片或二片標準箔校準。
       

      分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術參數:
       
      型號 1100 2100 3100 4100
      MINITEST 存儲的數據量
      應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) 1 1 10 99
      每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值) - 1 10 99
      可用各自的日期和時間標識特性的組數 - 1 500 500
      數據總量 1 10000 10000 10000
      MINITEST統計計算功能
      讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar -
      讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
      組統計值六種x,s,n,max,min,kvar - -
      組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
      存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 - - -
      分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 - -
      顯示并打印測量值、打印的日期和時間 -
      其他功能
      透過涂層進行校準(CTC) -
      在粗糙表面上作平均零校準
      利用計算機進行基礎校準
      補償一個常數(Offset) - -
      外設的讀值傳輸存儲功能 -
      保護并鎖定校準設置
      更換電池是存儲數值
      設置極限值 - -
      公英制轉換
      連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別大小值 - -
      連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 - -
      浮點和定點方式數據傳送
      組內單值延遲顯示 -
      連續測量模式中顯示小值
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

      注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 
      分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100探頭選型表:
      探頭 量程 低端
      分辨率
      誤差 半徑(凸/凹) 小測量
      區域直徑
      小基
      體厚度
      探頭尺寸



      法  < 
      F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm)   3mm 0.2mm φ15x62mm
      F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   5mm 0.5mm φ15x62mm
      F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   5mm 0.5mm φ8x170mm
      F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm)   5mm 0.5mm φ15x62mm
      F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm)   20mm 1mm φ25x46mm
      F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm)   40mm 2mm φ40x66mm
      F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm)   300mm 2mm φ45x70mm


           
      FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
      N50μm
      φ15x62mm
      FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   30mm F0.5mm
      N50μm
      φ21x89mm
      FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm)   5mm F0.5mm
      N50μm
      φ15x62mm



      法                  
      N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm)   2mm 50μm φ16x70mm
      N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm)   2mm 100μm φ15x62mm
      N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   2mm 50μm φ15x62mm
      N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   5mm 50μm φ13x170mm
      N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm)   50mm 50μm φ60x50mm
      N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm)   70mm 50μm φ65x75mm
      N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm)   200mm 50μm φ126x155mm
      CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm)   7mm 無限制 φ17x80mm

       
      探頭圖示
       
      FN1.6
      0~1600μm,φ5mm
      兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

       
      FN1.6P
      0~1600μm,φ30mm
      兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


       
      F05
      0~500μm,φ3mm
      磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
      量程低端分辨宰很高(0.1μm)

       
      F1.6
      0~1600μm,φ5mm
      磁性測頭
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

       
      F3
      0~3000μm,φ5mm
      磁性測頭
      可用于較厚的覆層

       
      F1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      90度磁性測頭
      尤其適合于在管內壁測量
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

       
      F10
      0~10mm,φ20mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


       
      F20
      0~20mm,φ40mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

       
      F50
      0~50mm,φ300mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

       
      N02
      0~200μm,φ2mm
      非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

       
      N0.8Cr
      0~80μm,φ2mm
      適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

       
      N1.6
      0~1600μm,φ2mm
      非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

       
      N1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
      尤其適合在管內壁測量
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

       
      N10
      0~10mm,φ50mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

       
      N20
      0~20mm,φ70mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

       
      N100
      0~100mm,200mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
       
      CN02
      10~200μm,φ7mm
      用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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