德國EPK涂層測厚儀-MINITEST 720/730/740
德國EPK涂層測厚儀-MINITEST 720/730/740**的SIDSP（探頭內部數字信號處理）技術提升了測量的**性 。測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用。
產品目錄
- 鐵素體測試儀/鐵素體檢測儀
- 阻抗分析儀
- 頻率特性分析儀
- 露點儀
- 顯微鏡
- 光伏測試儀
- 存儲記錄儀
- 功率計
- 微歐計
- 電氣安裝測試儀
- LCR測試儀
- 耐壓絕緣測試儀
- 接地電阻測試儀
- 電池測試儀
- 泄漏電流測試儀
- 數字兆歐表
- 多功能測試儀
- 萬用表
- 鉗形表
- 示波器
- 信號源
- 頻譜分析儀
- 直流電源
- 相序表
- 硬度計
- 超聲波測厚儀
- 涂層測厚儀
- 電火花檢測儀
- 粗糙度儀
- 附著力測試儀
- 光澤度儀
- 測振儀
- 張力儀
- 推拉力計
- 扭力測試儀
- 超聲波探傷儀
- 頻閃儀
- 紅外熱像儀
- 紅外測溫儀
- 溫濕度計
- 照度計
- 噪音計
- 風速儀
- 氣體檢測儀
- 煙氣分析儀
- 粒子計數器
- 差壓儀
- 網絡測試儀
- 電纜測試儀
- 電子天平
- 轉速表
- 過程校驗儀
- 激光測距儀
- 酸度計
- 電導率儀
- 粘度計
- 化學分析儀器
- 便攜式濁度儀
- 水份儀
- 高斯計
- 電力質量分析儀
產品詳情
簡單介紹：
詳情介紹：
德國EPK涂層測厚儀-MINITEST 720/730/740 產品介紹
**的SIDSP（探頭內部數字信號處理）技術提升了測量的**性
測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用
FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
MINITEST 700優點一覽：
SIDSP使測量不受干擾，測值更加**
可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內置換為外置）
FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
生產過程中50點校準使儀器獲得高**度的特征曲線
大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
讀數和統計值能單獨調出
超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
菜單指引操作，25種語言可選
帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
可下載更新軟件
標準配置：
帶塑料手提箱，內含：
MINITEST 720(內置探頭)
或MINITEST 730（外置探頭）
或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
校準套裝含校準片和零板
操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
2節AA電池
推薦配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
德國EPK涂層測厚儀-MINITEST 720/730/740
| 型號 特性 |
MINITEST 720 |
MINITEST 730 |
MINITEST 740 |
|
探頭類型 |
內置 |
外置 |
內置外置可換 |
|
數據記憶組數 |
10 |
10 |
100 |
|
存儲數據量 |
多10,000個 |
多10,000個 |
多100,000個 |
|
統計值 |
讀值個數，小值，大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置） |
||
|
校準程序符合國際標準和規范 |
ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 |
||
|
校準模式 |
出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值 |
||
|
極限值監控 |
聲、光報警提示超過極限 |
||
|
測量單位 |
um，mm，cm；mils，inch，thou |
||
|
操作溫度 |
-10℃-60℃ |
||
|
存放溫度 |
-20℃-70℃ |
||
|
數據接口 |
IrDA 1.0（紅外接口） |
||
|
電源 |
2節AA電池 |
||
|
標準 |
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 |
||
|
體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
||
|
重量 |
約175g |
約210g |
約175g（內置）/230g（外置） |
| 型號 特性 |
MINITEST 720
|
MINITEST 730
|
MINITEST 740
|
|
探頭類型
|
內置
|
外置
|
內置外置可換
|
|
數據記憶組數
|
10
|
10
|
100
|
|
存儲數據量
|
多10,000個
|
多10,000個
|
多100,000個
|
|
統計值
|
讀值個數，小值，大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置）
|
||
|
校準程序符合國際標準和規范
|
ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
|
||
|
校準模式
|
出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值
|
||
|
極限值監控
|
聲、光報警提示超過極限
|
||
|
測量單位
|
um，mm，cm；mils，inch，thou
|
||
|
操作溫度
|
-10℃-60℃
|
||
|
存放溫度
|
-20℃-70℃
|
||
|
數據接口
|
IrDA 1.0（紅外接口）
|
||
|
電源
|
2節AA電池
|
||
|
標準
|
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 |
||
|
體積
|
157mm x 75.5mm x 49mm
|
||
|
重量
|
約175g
|
約210g
|
約175g（內置）/230g（外置）
|
| 型號 特性 |
MINITEST 720
|
MINITEST 730
|
MINITEST 740
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|
探頭類型
|
內置
|
外置
|
內置外置可換
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|
數據記憶組數
|
10
|
10
|
100
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|
存儲數據量
|
多10,000個
|
多10,000個
|
多100,000個
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|
統計值
|
讀值個數，小值，大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置）
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|
校準程序符合國際標準和規范
|
ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
|
||
|
校準模式
|
出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值
|
||
|
極限值監控
|
聲、光報警提示超過極限
|
||
|
測量單位
|
um，mm，cm；mils，inch，thou
|
||
|
操作溫度
|
-10℃-60℃
|
||
|
存放溫度
|
-20℃-70℃
|
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|
數據接口
|
IrDA 1.0（紅外接口）
|
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|
電源
|
2節AA電池
|
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|
標準
|
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 |
||
|
體積
|
157mm x 75.5mm x 49mm
|
||
|
重量
|
約175g
|
約210g
|
約175g（內置）/230g（外置）
|
德國EPK涂層測厚儀-MINITEST 720/730/740 可選探頭：
| 探頭 特性 |
F1.5，N0.7，FN1.5 |
F2 |
F5，N2.5，FN5 |
F15 |
||
|
F |
N |
F |
F |
N |
F |
|
|
測量范圍 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
|
使用范圍 |
小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 |
粗糙表面 |
標準探頭，使用廣泛 |
厚涂層 |
||
|
測量原理 |
磁感應 |
電渦流 |
磁感應 |
磁感應 |
電渦流 |
磁感應 |
|
信號處理 |
探頭內部32位信號處理（SIDSP） |
|||||
|
**度 |
±（1μm+0.75%讀值） |
±（1.5μm+0.75%讀值） |
±（5μm+0.75%讀值） |
|||
|
重復性 |
±（0.5μm+0.5%讀值） |
±（0.8μm+0.5%讀值） |
±（2.5μm+0.5%讀值） |
|||
|
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
|||
|
小曲率半徑（凸） |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
|||
|
小曲率半徑（凹，外置探頭） |
7.5mm |
10mm |
25mm |
|||
|
小曲率半徑（凹，內置探頭） |
30mm |
30mm |
30mm |
|||
|
小測量面積 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
|||
|
小基體厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
|
連續模式下測量速度 |
每秒20個讀數 |
|||||
|
單值模式下大測量速度 |
每分鐘70個讀數 |
|||||
| 探頭 特性 |
F1.5，N0.7，FN1.5
|
F2
|
F5，N2.5，FN5
|
F15
|
||
|
F
|
N
|
F
|
F
|
N
|
F
|
|
|
測量范圍
|
0-1.5mm
|
0-0.7mm
|
0-2mm
|
0-5mm
|
0-2.5mm
|
0-15mm
|
|
使用范圍
|
小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用
|
粗糙表面
|
標準探頭，使用廣泛
|
厚涂層
|
||
|
測量原理
|
磁感應
|
電渦流
|
磁感應
|
磁感應
|
電渦流
|
磁感應
|
|
信號處理
|
探頭內部32位信號處理（SIDSP）
|
|||||
|
**度
|
±（1μm+0.75%讀值）
|
±（1.5μm+0.75%讀值）
|
±（5μm+0.75%讀值）
|
|||
|
重復性
|
±（0.5μm+0.5%讀值）
|
±（0.8μm+0.5%讀值）
|
±（2.5μm+0.5%讀值）
|
|||
|
低端分辨率
|
0.05μm
|
0.1μm
|
1μm
|
|||
|
小曲率半徑（凸）
|
1.0mm
|
1.5mm
|
5mm
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|||
|
小曲率半徑（凹，外置探頭）
|
7.5mm
|
10mm
|
25mm
|
|||
|
小曲率半徑（凹，內置探頭）
|
30mm
|
30mm
|
30mm
|
|||
|
小測量面積
|
Φ5mm
|
Φ10mm
|
Φ25mm
|
|||
|
小基體厚度
|
0.3mm
|
40μm
|
0.5mm
|
0.5mm
|
40μm
|
1mm
|
|
連續模式下測量速度
|
每秒20個讀數
|
|||||
|
單值模式下大測量速度
|
每分鐘70個讀數
|
|||||
